Chambre d'essai de contrainte hautement accélérée HAST

La chambre de test HAST est conçue pour accélérer le processus de test et raccourcir la durée de vie d'un produit ou d'un système dans un environnement exigeant. Grâce à l'amélioration de la fiabilité des semi-conducteurs, la plupart des dispositifs semi-conducteurs précédents peuvent résister au test THB à long terme sans défaillance. Par conséquent, la durée du test pour déterminer la qualité du produit fini augmente également en conséquence. Pour améliorer l’efficacité des tests et réduire le temps, adoptez la dernière version.

fr_FRFrench