HAST - Hochbeschleunigte Stresstestkammer

Die HAST-Testkammer wurde entwickelt, um den Testprozess zu beschleunigen und den Lebensdauertest eines Produkts oder Systems in einer Umgebung mit hohen Temperaturen zu verkürzen. Mit der Verbesserung der Halbleiterzuverlässigkeit können die meisten der bisherigen Halbleiterbauelemente den langfristigen THB-Test ohne Ausfall überstehen. Daher erhöht sich auch die Testzeit zur Bestimmung der Qualität des fertigen Produkts entsprechend. Um die Testeffizienz zu verbessern und die Zeit zu verkürzen, übernehmen Sie die neuesten.

de_DEGerman