휴대폰 비틀림 시험기

비틀림 시험에는 휴대폰 비틀림 시험기가 적합합니다. 휴대전화의 껍질과 내부 구조의 왜곡 저항을 테스트할 수 있습니다.

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설명

제품 사양

토크	0.3~5N.m±0.5%FS
테스트 속도	1 ~ 40회/분
서있는 시간	1~999SEC(설정)
시간	1 ~ 999999회
용량	W600×D550×H400mm
무게	35kg
전원 공급 장치	AC220V, 50hz 5a 또는 지정됨