HAST 高加速ストレス試験チャンバー

HAST試験チャンバーは、高環境下で製品やシステムの試験プロセスをスピードアップし、寿命試験を短縮するために設計されています。半導体の信頼性向上に伴い、従来の半導体デバイスのほとんどは、長時間のTHB試験にも故障することなく耐えられるようになりました。そのため、完成品の品質を判定するための試験時間もそれに応じて長くなります。試験効率の向上と時間短縮のためには、最新のものを採用しましょう。