製品仕様
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1.装置の全体寸法
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510*380*415mm （W*D*H）
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2.テストスペース
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360mm×330mm×100mm(W*D*H)
サンプルビンを視覚化し、試験中のサンプルを観察する。 |
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3.スポットサイズ
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Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2mm、Φ5mm、Φ7mm
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4.重量
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35kg |
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5.作業温度
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15-30℃ |
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6.作業相対湿度：
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≤75%（結露なきこと）
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7.テストエレメント範囲：
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S-Uの要素
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8.機能説明
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RoHS指令、ハロゲンフリー指令、WEEE指令、鉱石、合金分析に適用可能；Pb（鉛）、Cd（カドミウム）、Hg
(水銀)、総 Cr(クロム)、電子・電気プラスチック製品中のハロゲン総 Br(臭素)、Cl(塩素) エレメントコントロール。 |
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9.分析試料の種類
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固体、液体、粉、のり、等；
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10.テスト範囲：
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1ppm-99.99%
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11.測定時間
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60～240秒（ソフトウェアによる自動調整）
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12.保証期間
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3つのコアコンポーネントを含む2年保証（14ヶ月）：レントゲン
真空管、検出器、高圧電源。 |
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13.検出器
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Amptek X-123、分解能145eV、オリジナル輸入品一式（プローブ＋デジタルパルスプロセッサー）
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14.X線管
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最大出力は50W、モリブデンターゲット側窓X線管（Be）、耐用年数は2万時間以上。
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15.高圧電源
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最大出力50W（50kV、2mA）（0～2mA連続調整可能）
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16.入力電源
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AC 220V±10%、50Hz
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17.最大出力
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330W
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18.フィルター／コリメーター
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6種類の複合フィルター、6種類のコリメーター、自動切り替え；
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19.カメラ
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500万画素
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20.ソフトウェア・アルゴリズム
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経験係数法、標準内部法、標準曲線法、基本パラメータ法
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22.ソフトウェア・オペレーティング・システム
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オープン分析モデル機能、三重放射線防護システム（ソフトウェア、ハード
部品、ラビリンス設計）、開口テストのための自動警告システム、過電圧のための自己保護 保護、自己回復。回路ハードウェア安全インターロック、誤操作0.1uS高速カット X線源 |
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23.報告書フォーマット
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WORD、PDF、EXCEL、レポート形式はお客様のニーズに合わせて設定できます。
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24.サンプルの形状：
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固体、液体、粉末など、特に限定されない
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25.サンプルの厚さ：
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制限なし
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26.テスト要件（機能）
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1.ポジショニングテスト；
2.試験完了ソフトウェアが自動的に適格か否かを判断し、試験報告書を自動的にエクスポートする。 製品写真とスペクトル図付き 3.試験元素のスペクトルとスペクトル比較関数が存在する。 |
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27.試料の直径：
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任意Φ0.1mm-Φ25mm
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28.分析の検出限界：
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1ppm
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29.RoHS測定精度：
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1000ppm前後のサンプルの測定精度偏差は±50ppm、100ppm前後は±10ppm、最大検出限界は
Cr、Hg、Pb、Cdは2ppm以下 |
ベンチトップ蛍光X線分析装置の特徴
- XRF材料分析計は、RS232インターフェースを備えたUSBダウンロード機能を備えています。ソフトウェアの曲線はレコーダーを必要としません。
- 真空ガラスの観察窓は、機能の直接観察をより効果的にする。
- 冷媒サーボ制御弁の流量計算。30%の電気を節約し、流れの時間の休眠、および50%エネルギーより多くを節約しなさい。
- SGS認証コントローラーにより電磁干渉を防止。少なくとも 32 のデジタル柔らかい道は時報の開発およびソフトウェア アップグレード機能と一致します。
- 霜取りサイクル（800サイクル霜取り時間、毎回2時間以内に霜取り保証、統合テスト省電力の省エネ25%に達する）
蛍光X線分析 ベンチトップ分析アプリケーション
SPR1は高性能エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDXRF）です。独自の光路システム、放熱システム、制御システム、ソフトウェアアルゴリズムにより、SPR1は検査精度、精度、操作性において類似製品を凌駕しています。その優れた性能は、RoHS/HF検出、重金属検出、合金組成、貴金属検出、コーティングテスト、土壌組成、鉱物組成などの分野で広く使用され、ユーザーから高い評価を得ています。
